薄膜电导TOC检测技术

Sievers 薄膜电导率检测技术用于检测总有机碳（TOC）含量，并被证明为十分精准可靠的检测方法。不同于非分散红外检测（NDIR—non-dispersive infrared）技术，电导率检测法数值相对稳定，也不会随着时间的变化有明显的漂移。因此使用薄膜电导率检测技术，设备无需经常校准，所得到的检测结果也十分稳定。

Sievers薄膜电导率检测技术使用了选择性气体渗透薄膜，只有氧化产生的CO₂能通过这层薄膜进入检测仓。从而防止酸、碱和含卤素等杂原子化合物的干扰，因此相比直接电导率法，Sievers薄膜电导率检测法减少了检测中的“假正“现象，提供了无比优异的选择性、灵敏度、稳定型、精确度和准确度。

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Sievers 860实验室型，900实验室型，900便携式型，900在线型，5310 C实验室型，5310C在线型，500RL On-Line和500 RLe在线型TOC分析仪都是用了薄膜电导率检测技术。